x射线荧光光谱元素分析仪自旋样品腔139ev高分辨率探测器x射线分析仪
产品说明、技术参数及配置
x射线荧光光谱元素分析仪属于先进的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展，传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式，转化成光、机、电、算（计算机）一体化、自动化的结构，并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在以已掌握的成熟的台式x荧光光谱仪技术为基础，结合国外相关***的技术发展成果，研制出具有自主知识产权的edx 3600k型x荧光光谱仪。
edx 3600k x荧光光谱仪的亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨sdd探测器和自旋式的样品腔，产品通过了江苏省计量科学研究院的检测，并通过中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定。
应用领域：
专为粉未冶炼行业研发的一款高端设备，主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。
同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。
性能优势：
1.超低能量分辨率，轻元素检测效果更佳
使用大面积铍窗电致冷sdd探测器，探测器分辨率***达到139ev，各项指标优于国家标准。sdd探测器具有良好的能量线
性、良好的能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；对si、s、ai等轻元素的测试具有良好的分析精度。
仪器配置：
铍窗电制冷sdd探测器
自旋式样品腔
高效超薄窗x光管
超近光路增强系统
可自动开启的测试盖
自动切换型准直器和滤光片
真空腔体
技术参数：
型号：edx3600k
x射线源：50kv、1ma
样品腔体积：φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散x荧光分析方法
测量元素范围：原子序数为9～92[氟（f）到铀（u）]之间的元素均可测量
检测元素：同时分析元素达三十多种，可根据客户需要增加元素
含量范围：ppm～99.99%
检测时间：10秒以上
检测对象：标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率：超大超薄的sdd探测器，分辨率 为144±5ev,可选配极速探测器***至125ev
激发源：铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择
测井环境：超真空系统，10秒可抽到10pa以下
滤光片：6种滤光片组合自动切换
自旋装置：可调速的自旋装置
检出限：对样品中的大多数元素来说，***检出限达5～500ppm
真空系统：超真空系统，10秒可到10pa
数据传输：数字多道技术，快速分析，高计数率
软件优势：
采用公司***的能谱edxrf软件，先进的fp法和ec法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，操作简易，对操作人员限制小的特点。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
全新的软件界面和内核，采用fp和ec软件组合的方法，应用面更加广泛。
自旋样品腔139ev高分辨率探测器x射线分析仪
型号：edx3600k

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